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晶合集成取得晶體管測試方法
- 分類:新聞資訊
- 作者:晶體管測試儀
- 來源:晶體管測試儀
- 發(fā)布時間:2024-11-06
- 訪問量:0
【概要描述】晶體管測試儀該晶體管測試方法包括:向待測晶體管的柵極施加工作電壓,將待測晶體管的源極接地,根據(jù)施加于待測晶體管漏極的第一測試電壓與第一測試電壓作用下的第一測試電流的變化關系,得到第一電流?電壓特性曲線;繼續(xù)向柵極施加工作電壓,將漏極接地,根據(jù)施加于源極的第二測試電壓與第二測試電壓作用下的第二測試電流的變化關系
晶合集成取得晶體管測試方法
【概要描述】晶體管測試儀該晶體管測試方法包括:向待測晶體管的柵極施加工作電壓,將待測晶體管的源極接地,根據(jù)施加于待測晶體管漏極的第一測試電壓與第一測試電壓作用下的第一測試電流的變化關系,得到第一電流?電壓特性曲線;繼續(xù)向柵極施加工作電壓,將漏極接地,根據(jù)施加于源極的第二測試電壓與第二測試電壓作用下的第二測試電流的變化關系
- 分類:新聞資訊
- 作者:晶體管測試儀
- 來源:晶體管測試儀
- 發(fā)布時間:2024-11-06
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晶體管測試儀該晶體管測試方法包括:向待測晶體管的柵極施加工作電壓,將待測晶體管的源極接地,根據(jù)施加于待測晶體管漏極的第一測試電壓與第一測試電壓作用下的第一測試電流的變化關系,得到第一電流?電壓特性曲線;繼續(xù)向柵極施加工作電壓,將漏極接地,根據(jù)施加于源極的第二測試電壓與第二測試電壓作用下的第二測試電流的變化關系,得到第二電流?電壓特性曲線;將第一電流?電壓特性曲線和第二電流?電壓特性曲線進行對比得到差異度,當差異度超出預設閾值時,判定待測晶體管存在異常。該晶體管測試方法能夠全面地對待測晶體管是否存在缺陷進行檢測,防止含缺陷晶體管的芯片流出,以提升產(chǎn)品良率。
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