熱門關鍵詞：晶體管測試儀 晶體管圖示儀 碳化硅器件測試儀 SiC器件測試儀 雙脈沖測試儀 電壓耐量測試設備 門極絕緣柵單元觸發(fā)器實驗儀
半導體器件雪崩測量及功率循環(huán)試驗系統(tǒng)
功率器件測試系統(tǒng)功率循環(huán)對各種功率器件進行功率循環(huán)老化試驗，模擬器件在不同功率工況下的退化情 況，通過加熱與冷卻過程的控制，對封裝、溝道 或者內部鍵合絲進行熱疲勞試驗。功率循環(huán)試驗系統(tǒng)適用范圍：適用于各種封裝的IGBT模塊、SiC模塊、二極管模塊等進行PCsec、PCmin、K Factor、Rth/Zth、SOA、瞬 態(tài)熱阻曲線試驗。
發(fā)布時間：
2025-03-14
來源：
功率器件測試系統(tǒng)
功率器件測試系統(tǒng)功率循環(huán)對各種功率器件進行功率循環(huán)老化試驗，模擬器件在不同功率工況下的退化情 況，通過加熱與冷卻過程的控制，對封裝、溝道 或者內部鍵合絲進行熱疲勞試驗。
功率循環(huán)試驗系統(tǒng)適用范圍：適用于各種封裝的IGBT模塊、SiC模塊、二極管模塊等進行PCsec、PCmin、K Factor、Rth/Zth、SOA、瞬 態(tài)熱阻曲線試驗。
? 測試通道：12
? 最大測試電流 1800A
? 最大電壓 48V
? 最大試驗溫度 200°℃
? 柵極控制電壓 ±15V
? 測試電流分辨率 10m
半導體,功率,器件
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