雙脈沖測試儀雙脈沖測試(Double Pulse Test)是分析功率開關(guān)器件動態(tài)特性的常用測試，通過雙脈沖測試可以便捷的評估功率器件的性能，獲得穩(wěn)態(tài)和動態(tài)過程中的主要參數(shù)，更好的評估器件性能，優(yōu)化驅(qū)動設(shè)計等等。 雖然功率半導(dǎo)體器件的手冊上會有參數(shù)標(biāo)注，但這些參數(shù)都是在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下得到的。使用IGBT或者M(jìn)OSFET做逆變器的工程師如果不加以測試，而直接在標(biāo)定的工況下跑看能否達(dá)到設(shè)計的功率，無法全面了解器件性能，進(jìn)而影響產(chǎn)品長期可靠性。又或者設(shè)計裕量過大帶來成本增加，使得產(chǎn)品的市場競爭力下降。 如果能在設(shè)計研發(fā)階段，精準(zhǔn)地了解器件的開關(guān)性能，將對整個產(chǎn)品的優(yōu)化帶來極大的好處。比如能在不同的電壓、電流和溫度下獲得開關(guān)損耗，給系統(tǒng)仿真提供可靠的數(shù)據(jù);又比如可以通過觀察波形振蕩情況來選擇合適的門極電阻。 ITECH作為功率半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的領(lǐng)先供應(yīng)商，為雙脈沖測試提供多種先進(jìn)電源產(chǎn)品。 ? 雙脈沖測試平臺 測試設(shè)備 1.高壓電源:IT6700H/IT6018C-1500-40/IT-M3906C-1500-122.電容組3.負(fù)載電感4.示波器5.高壓差分電壓探頭(1000:1)6.電流探頭7可編程信號發(fā)生器或IT2806高精密源測量單元/源表/SMU

雙脈沖測試流程: STEP 1 在t0時刻，被測IGBT的門極接收到第一個脈沖，被測IGBT導(dǎo)通，母線電壓U加在負(fù)載電感L上，電感上的電流線性上升，I=U*t/L； IGBT關(guān)斷前的t1時刻，電感電流的數(shù)值由U和L決定；在U和L都確定時，電流的數(shù)值由IGBT開啟的脈寬T1決定，開啟時間越長，電流越大； 執(zhí)行點：通過改變脈沖寬度的大小，自主設(shè)定電流的數(shù)值。

STEP 2 t1到t2之間，IGBT關(guān)斷，此時負(fù)載的電流L的電流由上管二極管續(xù)流，該電流緩慢衰減； t1時刻，IGBT關(guān)斷，因為母線雜散電感Ls的存在，會產(chǎn)生一定的電壓尖峰； 關(guān)注點：在該時刻，重點是觀察IGBT的關(guān)斷過程，電壓尖峰是重要的監(jiān)控對象。

STEP 3 在t2時刻，被測IGBT 再次導(dǎo)通，續(xù)流二極管進(jìn)入反向恢復(fù)狀態(tài)，反向恢復(fù)電流會穿過IGBT，此時電流探頭所測得的Ic為FRD反向電流與電感電流疊加，產(chǎn)生電流尖峰； 重點觀察：IGBT的開通過程，電流峰值是重要的監(jiān)控對象，同時應(yīng)注意觀察柵極波形是否存在震蕩現(xiàn)象。